Détection des états de surface à l’interface Si/SiO2 par balayages successifs en mode SSRM - Archive ouverte HAL Access content directly
Conference Papers Year : 2016

Détection des états de surface à l’interface Si/SiO2 par balayages successifs en mode SSRM

Domains

Engineering Sciences [physics]

Bertrand BOUDART  : Connect in order to contact the contributor

https://hal.science/hal-01654277

Submitted on : Sunday, December 3, 2017-4:45:00 PM

Last modification on : Wednesday, May 15, 2024-2:26:05 PM

No file

Dates and versions

hal-01654277 , version 1 (03-12-2017)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01654277 , version 1

Cite

Rosine Coq Germanicus, P. Leclère, Yannick Guhel, B. Boudart, Philippe Descamps, et al.. Détection des états de surface à l’interface Si/SiO2 par balayages successifs en mode SSRM. 19e Forum des microscopies à sonde locale, 2016, Sochaux, France. ⟨hal-01654277⟩

Export

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CEA CNRS INSA-ROUEN COMUE-NORMANDIE INC-CNRS UNIROUEN ENSICAEN UNICAEN CRISMAT INSA-GROUPE LUSAC
80 View
0 Download

Share

Gmail Mastodon Facebook X LinkedIn More