Détection des états de surface à l’interface Si/SiO2 par balayages successifs en mode SSRM - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Détection des états de surface à l’interface Si/SiO2 par balayages successifs en mode SSRM

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Bertrand BOUDART  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01654277

Soumis le : dimanche 3 décembre 2017-16:45:00

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-03:14:45

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01654277 , version 1 (03-12-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01654277 , version 1

Citer

Rosine Coq Germanicus, P. Leclère, Yannick Guhel, B. Boudart, Philippe Descamps, et al.. Détection des états de surface à l’interface Si/SiO2 par balayages successifs en mode SSRM. 19e Forum des microscopies à sonde locale, 2016, Sochaux, France. ⟨hal-01654277⟩

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