Raman characterization of Mg+ ion-implanted GaN - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2003
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01649531 , version 1 (27-11-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01649531 , version 1

Citer

B. Boudart, Yannick Guhel, J. C. Pesant, Paul Dhamelincourt, M.A. Poisson. Raman characterization of Mg+ ion-implanted GaN. 7th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors, 2003, Lille, France. ⟨hal-01649531⟩
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