Communication Dans Un Congrès
Année : 2003
Bertrand BOUDART : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01649531
Soumis le : lundi 27 novembre 2017-15:32:40
Dernière modification le : vendredi 26 avril 2024-03:29:33
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01649531 , version 1
Citer
B. Boudart, Yannick Guhel, J. C. Pesant, Paul Dhamelincourt, M.A. Poisson. Raman characterization of Mg+ ion-implanted GaN. 7th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors, 2003, Lille, France. ⟨hal-01649531⟩
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