Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006

Dates et versions

hal-01646876 , version 1 (23-11-2017)

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Citer

Y. Guhel, B. Boudart, E. Delos, Marie Germain, Z. Bougrioua. Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N. Microelectronics Reliability, 2006, 46 (5-6), pp.786 - 793. ⟨10.1016/j.microrel.2005.08.008⟩. ⟨hal-01646876⟩
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