Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2006
Bertrand BOUDART : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01646876
Soumis le : jeudi 23 novembre 2017-19:50:41
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01646876 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2005.08.008
Citer
Y. Guhel, B. Boudart, E. Delos, Marie Germain, Z. Bougrioua. Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N. Microelectronics Reliability, 2006, 46 (5-6), pp.786 - 793. ⟨10.1016/j.microrel.2005.08.008⟩. ⟨hal-01646876⟩
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