Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N

Y. Guhel; B. Boudart; E. Delos; Marie Germain; Z. Bougrioua

doi:10.1016/j.microrel.2005.08.008

Article Dans Une Revue Microelectronics Reliability Année : 2006

Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N

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2

Y. Guhel

Fonction : Auteur

Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg

B. Boudart

Fonction : Auteur
PersonId : 16148
IdHAL : bertrand-boudart
IdRef : 060260092

Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg

E. Delos

Fonction : Auteur

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520

Marie Germain

Fonction : Auteur
PersonId : 170960
IdHAL : marie-germain
ORCID : 0000-0001-7382-1609
IdRef : 176579958

CV

Z. Bougrioua

Fonction : Auteur
PersonId : 180745
IdHAL : zahia-bougrioua
ORCID : 0000-0003-3579-7091
IdRef : 113374135

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Bertrand BOUDART : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-01646876

Soumis le : jeudi 23 novembre 2017-19:50:41

Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18

Dates et versions

hal-01646876 , version 1 (23-11-2017)

Identifiants

HAL Id : hal-01646876 , version 1
DOI : 10.1016/j.microrel.2005.08.008

Citer

Y. Guhel, B. Boudart, E. Delos, Marie Germain, Z. Bougrioua. Comparative studies of Pt and Ir schottky contacts on undoped Al0.36Ga0.64N. Microelectronics Reliability, 2006, 46 (5-6), pp.786 - 793. ⟨10.1016/j.microrel.2005.08.008⟩. ⟨hal-01646876⟩

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