Defect and field-enhancement characterization through electron-beam-induced current analysis - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Applied Physics Letters Année : 2017
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Dates et versions

hal-01617264 , version 1 (16-10-2017)

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Citer

Hitoshi Umezawa, Hiroki Gima, Khaled Driche, Yukako Kato, Tsuyoshi Yoshitake, et al.. Defect and field-enhancement characterization through electron-beam-induced current analysis. Applied Physics Letters, 2017, 110 (18), pp.182103. ⟨10.1063/1.4982590⟩. ⟨hal-01617264⟩
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