Article Dans Une Revue
Applied Physics Letters
Année : 2017
Etienne Gheeraert : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01617264
Soumis le : lundi 16 octobre 2017-14:29:47
Dernière modification le : mercredi 24 avril 2024-11:28:54
Citer
Hitoshi Umezawa, Hiroki Gima, Khaled Driche, Yukako Kato, Tsuyoshi Yoshitake, et al.. Defect and field-enhancement characterization through electron-beam-induced current analysis. Applied Physics Letters, 2017, 110 (18), pp.182103. ⟨10.1063/1.4982590⟩. ⟨hal-01617264⟩
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