Characterization and modeling of nonlinear trapping effects in power SiC MESFETs
Résumé
no abstract
Raphael Sommet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-01279780
Soumis le : vendredi 26 février 2016-23:17:53
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:02