Quantitative analysis of shadow X-ray Magnetic Circular Dichroism Photo-Emission Electron Microscopy
Résumé
Shadow X-ray Magnetic Circular Dichroism Photo-Emission Electron Microscopy
(XMCD-PEEM) is a recent technique, in which the photon intensity in the shadow
of an object lying on a surface, may be used to gather information about the
three-dimensional magnetization texture inside the object. Our purpose here is
to lay the basis of a quantitative analysis of this technique. We first discuss
the principle and implementation of a method to simulate the contrast expected
from an arbitrary micromagnetic state. Text book examples and successful
comparison with experiments are then given. Instrumental settings are finally
discussed, having an impact on the contrast and spatial resolution : photon
energy, microscope extraction voltage and plane of focus, microscope background
level, electric-field related distortion of three-dimensional objects, Fresnel
diffraction or photon scattering.
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