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Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Resolving dopants in semiconductors by scanning tunneling microscopy

Maxime Berthe
B. Grandidier
G. Mahieu
  • Fonction : Auteur
T. Xu
  • Fonction : Auteur
D. Deresmes
J.P. Nys
  • Fonction : Auteur
P. Ebert
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00808236 , version 1 (05-04-2013)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00808236 , version 1

Citer

Maxime Berthe, B. Grandidier, G. Mahieu, T. Xu, D. Deresmes, et al.. Resolving dopants in semiconductors by scanning tunneling microscopy. Journées Thématiques du GdR Nanofils Semiconducteurs - Dopage des nanofils semiconducteurs, 2010, Rouen, France. ⟨hal-00808236⟩
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