Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2006
Sandrine Coudert : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00582505
Soumis le : vendredi 1 avril 2011-16:09:27
Dernière modification le : mercredi 2 août 2023-16:40:25
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00582505 , version 1
Citer
Cristiano Palego, Arnaud Pothier, Aurelian Crunteanu, Pierre Blondy. High power reliability aspects on RF MEMS varactor design. Microelectronics Reliability, 2006, 46 (9-11), pp.1705-1710. ⟨hal-00582505⟩
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