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Communication Dans Un Congrès Année : 2008

Backside failure analysis by electroluminescence on microwave devices

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00401293 , version 1 (02-07-2009)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00401293 , version 1

Citer

Moshine Bouya, Dominique Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. Backside failure analysis by electroluminescence on microwave devices. Int. Symp. for Testing and Failure Analysis ISTFA, Nov 2008, Portland, United States. pp.214-219. ⟨hal-00401293⟩
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