Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Nathalie Labat : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401293
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009-18:21:40
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:11
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401293 , version 1
Citer
Moshine Bouya, Dominique Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. Backside failure analysis by electroluminescence on microwave devices. Int. Symp. for Testing and Failure Analysis ISTFA, Nov 2008, Portland, United States. pp.214-219. ⟨hal-00401293⟩
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