Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00401293
Soumis le : jeudi 2 juillet 2009-18:21:40
Dernière modification le : lundi 17 mars 2025-19:35:56
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00401293 , version 1
Citer
Moshine Bouya, Dominique Carisetti, Nathalie Malbert, Nathalie Labat, Philippe Perdu, et al.. Backside failure analysis by electroluminescence on microwave devices. Int. Symp. for Testing and Failure Analysis ISTFA, Nov 2008, Portland, United States. pp.214-219. ⟨hal-00401293⟩
Collections
85
Consultations
0
Téléchargements