L'augmentation de la complexité des systèmes sur puce mixtes et RF (SoC AMS&RF) rend difficile leur test. En effet, les défauts pouvant apparaître lors de la conception et la fabrication de ces circuits sont de plus en plus difficilement observables et contrôlables. Plusieurs méthodes de test ont déjà été développées pour les composants RF élémentaires mais ces méthodes conduisent à des temps de simulation rédhibitoires pour la génération des tests de SoC AMS&RF. Ainsi, nous proposons une méthode pour la qualification et la génération de vecteurs de test basée sur l'injection et la simulation de fautes au niveau comportemental. Cette approche est validée sur un IC, développé par ST Microelectronics, réalisant le front-end RF d'un système d'émission-réception WCDMA.