Article Dans Une Revue
Non destructive testing international
Année : 1990
José Ragot : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00170515
Soumis le : dimanche 9 septembre 2007-17:49:07
Dernière modification le : mardi 19 mars 2024-16:41:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00170515 , version 1
Citer
Jean Merckle, Dominique Sauter, José Ragot, Jean-Baptiste Lajournade, Jean-Marc Watrinet. Intelligent sensing for non-destructive testing using eddy current. Non destructive testing international, 1990, 23 (6), pp.335-344. ⟨hal-00170515⟩
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