Impact of gate polysilicon interface on carrier trapping low frequency noise in advanced MOSFET's - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Fluctuations and noise letters Année : 2006

Impact of gate polysilicon interface on carrier trapping low frequency noise in advanced MOSFET's

J. Jomaah
  • Fonction : Auteur
F. Balestra
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00145512 , version 1 (10-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00145512 , version 1

Citer

Gérard Ghibaudo, J. Jomaah, F. Balestra. Impact of gate polysilicon interface on carrier trapping low frequency noise in advanced MOSFET's. Fluctuations and noise letters, 2006, 6, pp.L427. ⟨hal-00145512⟩

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