Article Dans Une Revue
Fluctuations and noise letters
Année : 2006
Chahla Domenget : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00145512
Soumis le : jeudi 10 mai 2007-15:09:32
Dernière modification le : jeudi 4 avril 2024-18:19:22
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00145512 , version 1
Citer
Gérard Ghibaudo, J. Jomaah, F. Balestra. Impact of gate polysilicon interface on carrier trapping low frequency noise in advanced MOSFET's. Fluctuations and noise letters, 2006, 6, pp.L427. ⟨hal-00145512⟩
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