Article Dans Une Revue
Fluctuations and noise letters
Année : 2006
Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-00145512
Soumis le : jeudi 10 mai 2007-15:09:32
Dernière modification le : samedi 27 septembre 2025-18:31:34
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-00145512 , version 1
Citer
Gérard Ghibaudo, J. Jomaah, F. Balestra. Impact of gate polysilicon interface on carrier trapping low frequency noise in advanced MOSFET's. Fluctuations and noise letters, 2006, 6, pp.L427. ⟨hal-00145512⟩
65
Consultations
0
Téléchargements