Origin of Vt instabilities in high-k dielectrics: Jahn-Tellet effects or oxygen vacancies - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Device and Materials Reliability Année : 2006
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00145510 , version 1 (10-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00145510 , version 1

Citer

G. Ribes S. Bruyère D. Roy C. Parthasarathy M. Muller M. Denais V. Huard T. Skotnicki, G. Ghibaudo. Origin of Vt instabilities in high-k dielectrics: Jahn-Tellet effects or oxygen vacancies. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2006, 6, pp.132. ⟨hal-00145510⟩

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