Impact of Film Thickness on LF Noise in SOI Devices - FMNT - Fédération Micro- et Nano- Technologies
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Impact of Film Thickness on LF Noise in SOI Devices

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-00147157 , version 1 (16-05-2007)

Identifiants

  • HAL Id : hal-00147157 , version 1

Citer

L. Zafari, J. Jomaah, G. Ghibaudo. Impact of Film Thickness on LF Noise in SOI Devices. International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2006), 2006, Japan, Japan. pp.XX. ⟨hal-00147157⟩

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