Article Dans Une Revue
Applied Physics Express
Année : 2011
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https://hal.science/hal-05006762
Soumis le : mercredi 26 mars 2025-14:23:01
Dernière modification le : jeudi 27 mars 2025-03:12:37
Citer
Damien Deleruyelle, Carine Dumas, Marion Carmona, Christophe Muller, Sabina Spiga, et al.. Direct Observation at Nanoscale of Resistance Switching in NiO Layers by Conductive-Atomic Force Microscopy. Applied Physics Express, 2011, 4 (5), pp.051101. ⟨10.1143/APEX.4.051101⟩. ⟨hal-05006762⟩
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