The Use of Filtered High-Energy X-rays and 60Co for TID Testing of a 32-Bit 28nm FDSOI DSP
Alejandro Urena Acuna
(1)
,
Julien Favrichon
(2)
,
Aurélien Ballier
(3)
,
Pierre-Alexis Robin
(3)
,
Vincent Girones
(4, 5)
,
Tadec Maraine
(4)
,
Frédéric Saigné
(4, 5, 6)
,
Jérôme Boch
(4, 5)
1
DPHY, ONERA, Université de Toulouse [Toulouse]
2 ISEC - Institut des Sciences et technologies pour une Economie Circulaire des énergies bas carbone
3 UM - Université de Montpellier
4 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
5 RADIAC - Radiations et composants
6 FSEC - Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints
2 ISEC - Institut des Sciences et technologies pour une Economie Circulaire des énergies bas carbone
3 UM - Université de Montpellier
4 IES - Institut d’Electronique et des Systèmes
5 RADIAC - Radiations et composants
6 FSEC - Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints
Julien Favrichon
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1410488
- ORCID : 0000-0001-7586-1364
Vincent Girones
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1261193
- IdHAL : vincent-girones
- ORCID : 0000-0003-3954-4665
Tadec Maraine
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1517284
- IdHAL : tadec-maraine
Frédéric Saigné
- Fonction : Auteur
- PersonId : 19534
- IdHAL : frederic-saigne
- IdRef : 110480821
Jérôme Boch
- Fonction : Auteur
- PersonId : 18222
- IdHAL : jerome-boch
- ORCID : 0000-0002-5660-7501
- IdRef : 076170632