Accessing d-d Excitations Around Misfit Dislocations in Strongly Correlated NiO Thin Films Using High Energy-Resolution EELS - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Accessing d-d Excitations Around Misfit Dislocations in Strongly Correlated NiO Thin Films Using High Energy-Resolution EELS

Matthieu Bugnet
Matériaux, ingénierie et science [Villeurbanne]
Khalil El Hajraoui
  • Fonction : Auteur
Adam Kerrigan
  • Fonction : Auteur
Vlado K Lazarov
  • Fonction : Auteur
Guillaume Radtke
  • Fonction : Auteur
Institut de minéralogie, de physique des matériaux et de cosmochimie
Quentin M Ramasse
  • Fonction : Auteur
Demie Kepatsoglou
  • Fonction : Auteur

Domaines

Matière Condensée [cond-mat] Matériaux
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https://hal.science/hal-04801592

Soumis le : jeudi 28 novembre 2024-22:11:10

Dernière modification le : jeudi 5 décembre 2024-03:35:43

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Dates et versions

hal-04801592 , version 1 (28-11-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04801592 , version 1

Citer

Matthieu Bugnet, Khalil El Hajraoui, Adam Kerrigan, Vlado K Lazarov, Guillaume Radtke, et al.. Accessing d-d Excitations Around Misfit Dislocations in Strongly Correlated NiO Thin Films Using High Energy-Resolution EELS. Microscopy and Microanalysis, Jul 2024, Cleveland, United States. ⟨hal-04801592⟩

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