Local thermal measurements and scanning thermal microscopy
Pierre-Olivier Chapuis
(1)
,
Wenyu Zhao
(1)
,
A. Pic
(1)
,
E. Guen
(1)
,
M. Frausto
(1)
,
D. Renahy
(1)
,
G. Gadea
(2)
,
J. Sojo-Gordillo
(2)
,
V. Lacatena
(3)
,
M. Haras
(3, 4)
,
R. Rajkumar
,
N.J. Kaur
,
P. Klapetek
,
G. Mills
,
J. Weaver
(5)
,
P. Vincent
(6)
,
S. Gallois-Garreignot
(4)
,
Jean-Marie Bluet
(7)
,
J.F. Robillard
(8, 9)
,
S. Gomes
(1)
1
CETHIL -
Centre d'Energétique et de Thermique de Lyon
2 IREC - Catalonia Institute for Energy Research
3 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
4 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
5 University of Glasgow
6 ILM - Institut Lumière Matière [Villeurbanne]
7 INL - MFN - INL - Matériaux Fonctionnels et Nanostructures
8 MICROELEC SI - IEMN - Microélectronique Silicium - IEMN
9 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
2 IREC - Catalonia Institute for Energy Research
3 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
4 ST-CROLLES - STMicroelectronics [Crolles]
5 University of Glasgow
6 ILM - Institut Lumière Matière [Villeurbanne]
7 INL - MFN - INL - Matériaux Fonctionnels et Nanostructures
8 MICROELEC SI - IEMN - Microélectronique Silicium - IEMN
9 IEMN - Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
Pierre-Olivier Chapuis
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- Fonction : Auteur correspondant
- PersonId : 171286
- IdHAL : pierre-olivier-chapuis
- ORCID : 0000-0002-6264-2530
- IdRef : 191202266
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R. Rajkumar
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N.J. Kaur
- Fonction : Auteur
P. Klapetek
- Fonction : Auteur
G. Mills
- Fonction : Auteur
J.F. Robillard
- Fonction : Auteur
- PersonId : 747199
- IdHAL : jean-francois-robillard
- ORCID : 0000-0002-7170-7535
- IdRef : 132947110
S. Gomes
- Fonction : Auteur
- PersonId : 171288
- IdHAL : severine-gomes
- ORCID : 0000-0002-1173-7177
- IdRef : 115013636