Short-term reliability assessment of sub-micron thick AlN/GaN-on-Silicon HEMTs grown by MBE for RF applications
Domaines
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://hal.science/hal-04761106
Soumis le : mercredi 30 octobre 2024-22:17:37
Dernière modification le : lundi 23 mars 2026-09:10:02