Procédé et dispositif de cartographie d’épaisseur d’un objet
Résumé
L’invention concerne un procédé (10) pour établir une carte d’épaisseur d’un objet (4), mis en œuvre par au moins une paire de voies de mesure (2, 3) ; le procédé comprenant : mesure, par des capteurs optiques, de la lumière réfléchie et/ou diffusée de deux surfaces opposées :d’un objet de référence (30), pour obtenir des signaux de référence des positions des deux surfaces de référence,de l’objet à mesurer (4), pour obtenir des signaux de mesure des positions des deux surfaces de l’objet, à une pluralité de points de mesure,détermination, à partir des signaux de mesure et d’une épaisseur de référence, de valeurs d’épaisseur pour les points de mesure, établissement d’une carte d’épaisseur de l’objet à partir des valeurs d’épaisseur.