Characterization of cell and nucleus stiffness by coupling Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) and finite element modeling - Archive ouverte HAL
Pré-Publication, Document De Travail Année : 2024

Characterization of cell and nucleus stiffness by coupling Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) and finite element modeling

Aurélie Gangneux
  • Fonction : Auteur correspondant
Photomécanique et analyse expérimentale en mécanique des solides [Institut Pprime]
Kevin Pascreau
  • Fonction : Auteur
Aymerick Gaboriau
  • Fonction : Auteur
Théo Branchu
  • Fonction : Auteur
Laetitia Caille
  • Fonction : Auteur
Marc Mesnil
  • Fonction : Auteur
Tanguy Vendeuvre
  • Fonction : Auteur
Stéphane Sebille
  • Fonction : Auteur
Norah Defamie
  • Fonction : Auteur
Arnaud Germaneau
  • Fonction : Auteur

Domaines

Biomécanique [physics.med-ph]
Fichier principal
Vignette du fichier
MBJ_1-2024_CellTissul_547632.pdf (242.97 Ko) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Episciences System Account  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04737979

Soumis le : mardi 15 octobre 2024-15:07:28

Dernière modification le : mardi 15 octobre 2024-15:21:02

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

hal-04737979 , version 1 (15-10-2024)

Licence

Paternité

Identifiants

  • HAL Id : hal-04737979 , version 1

Citer

Aurélie Gangneux, Kevin Pascreau, Aymerick Gaboriau, Théo Branchu, Laetitia Caille, et al.. Characterization of cell and nucleus stiffness by coupling Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) and finite element modeling. 2024. ⟨hal-04737979⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite
5 Consultations
7 Téléchargements

Partager

More