Characterization of cell and nucleus stiffness by coupling Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) and finite element modeling - Archive ouverte HAL
Pré-Publication, Document De Travail Année : 2024

Characterization of cell and nucleus stiffness by coupling Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) and finite element modeling

Kevin Pascreau
  • Fonction : Auteur
Aymerick Gaboriau
  • Fonction : Auteur
Théo Branchu
  • Fonction : Auteur
Laetitia Caille
  • Fonction : Auteur
Marc Mesnil
  • Fonction : Auteur
Tanguy Vendeuvre
  • Fonction : Auteur
Stéphane Sebille
  • Fonction : Auteur
Norah Defamie
  • Fonction : Auteur
Arnaud Germaneau
  • Fonction : Auteur
Fichier principal
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Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04737979 , version 1 (15-10-2024)

Licence

Identifiants

  • HAL Id : hal-04737979 , version 1

Citer

Aurélie Gangneux, Kevin Pascreau, Aymerick Gaboriau, Théo Branchu, Laetitia Caille, et al.. Characterization of cell and nucleus stiffness by coupling Scanning Ion Conductance Microscopy (SICM) and finite element modeling. 2024. ⟨hal-04737979⟩
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