Proceedings/Recueil Des Communications
Année : 2024
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https://hal.science/hal-04490321
Soumis le : mardi 5 mars 2024-14:22:45
Dernière modification le : mardi 17 septembre 2024-16:02:06
Citer
Ammar Aljer, Philippe Devienne. Co-design and refinement for safety critical systems. 19th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, IEEE, pp.78-86, 2024, 0-7695-2241-6. ⟨10.1109/DFTVS.2004.1347827⟩. ⟨hal-04490321⟩
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