NanoSIMS50 imaging of thin samples coupled with neutral cesium deposition - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Surface and Interface Analysis Année : 2010

NanoSIMS50 imaging of thin samples coupled with neutral cesium deposition

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04440940 , version 1 (06-02-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04440940 , version 1

Citer

Jean‐nicolas Audinot, Armelle Cabin-Flaman, Patrick Philipp, Guillaume Legent, Tom Wirtz, et al.. NanoSIMS50 imaging of thin samples coupled with neutral cesium deposition. Surface and Interface Analysis, 2010, 43, pp.302-305. ⟨hal-04440940⟩
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