Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2019
Yannick Guhel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04408061
Soumis le : dimanche 21 janvier 2024-17:23:55
Dernière modification le : mardi 26 mars 2024-12:15:08
Citer
G. Brocero, Y. Guhel, P. Eudeline, J. Sipma, C. Gaquiere, et al.. Measurement of Self-Heating Temperature in AlGaN/GaN HEMTs by Using Cerium Oxide Micro-Raman Thermometers. IEEE Transactions on Electron Devices, 2019, 66 (10), pp.4156-4163. ⟨10.1109/TED.2019.2935335⟩. ⟨hal-04408061⟩
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