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Article Dans Une Revue L'Actualité Chimique Année : 2011

Chemical bond secrets as revealed by high resolution X-ray diffraction

Diffraction X haute résolution : les secrets de la liaison chimique révélés

Résumé

crystallography and x-ray diffraction are essential for the determination and analysis of crystal structures at thermal equilibrium. The analysis of the electron density through high resolution X-ray diffraction allows detailed experimental modelling of chemical bonding and electrostatic properties. Recent developments afford the possibility of probing out-of equilibrium materials in transient excited states with very short lifetime
La cristallographie et la diffraction des rayons X sont incontournables pour la détermination et l'analyse de la structure cristalline dans des conditions d'équilibre thermodynamique. L'analyse de densité électronique par diffraction de rayons X à haute résolution permet par ailleurs une modélisation expérimentale fine de la liaison chimique et des propriétés électrostatiques comme le montrent les trois exemples présentés dans cet article. Les développements récents permettent d'envisager des études de matériaux hors équilibre dans des états excités transitoires de très courte durée de vie. Mots-clés Cristallographie, liaison chimique, structure moléculaire, densité électronique, photocristallographie, diffraction des rayons X, rayonnement synchrotron.
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hal-04398386 , version 1 (23-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04398386 , version 1

Citer

Claude Lecomte, El-Eulmi Bendeif, Sébastien Pillet. Diffraction X haute résolution : les secrets de la liaison chimique révélés. L'Actualité Chimique, 2011, Le rayonnement synchrotron, une lumière pour comprendre la chimie, 356-357, pp.118-122. ⟨hal-04398386⟩
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