Coupling GD-OES and XPS profiling to perform advanced physico-chemical characterizations of III V layers for photovoltaic applications
Anais Loubat
(1)
,
Solene Bechu
(1)
,
Muriel Bouttemy
(1)
,
Celine Eypert
(1)
,
Sofia Gaiaschi
(1)
,
Mathieu Fregnaux
(1)
,
Damien Aureau
(1)
,
Jackie Vigneron
(1)
,
Nathalie Simon
(1)
,
Patrick Chapon
(1)
,
Anne-Marie Goncalves
(1)
,
Arnaud Etcheberry
(1)
Mathieu Fregnaux
- Fonction : Auteur
- PersonId : 737899
- IdHAL : mathieu-fregnaux
- ORCID : 0000-0002-3915-3982
- IdRef : 16965740X
Arnaud Etcheberry
- Fonction : Auteur
- PersonId : 756688
- ORCID : 0000-0003-3515-9866
- IdRef : 061555029