Mesure par spectroscopie de masse d’ions secondaires (SIMS) de la valeur absolue de la concentration d’éléments alcalins dans des couches de CIGS - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Poster De Conférence Année : 2018

Mesure par spectroscopie de masse d’ions secondaires (SIMS) de la valeur absolue de la concentration d’éléments alcalins dans des couches de CIGS

Solène Béchu
François Jomard
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 933565
Bertrand Theys
Muriel Bouttemy
Arnaud Etcheberry

Domaines

Chimie
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04390061 , version 1 (12-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04390061 , version 1

Citer

Solène Béchu, François Jomard, Bertrand Theys, Muriel Bouttemy, Arnaud Etcheberry. Mesure par spectroscopie de masse d’ions secondaires (SIMS) de la valeur absolue de la concentration d’éléments alcalins dans des couches de CIGS. JNPV 2018, Dec 2018, Dourdan, France. ⟨hal-04390061⟩
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