Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2023
Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04335878
Soumis le : lundi 11 décembre 2023-15:25:11
Dernière modification le : samedi 24 janvier 2026-15:16:17
Citer
Bogdan Cretu, Anabela Veloso, Eddy Simoen. Refined DC and Low-Frequency Noise Characterization at Room and Cryogenic Temperatures of Vertically Stacked Silicon Nanosheet FETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2023, 70 (1), pp.254-260. ⟨10.1109/TED.2022.3225248⟩. ⟨hal-04335878⟩
Collections
36
Consultations
0
Téléchargements