Article Dans Une Revue
IEEE Transactions on Electron Devices
Année : 2023
Bogdan Cretu : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04335878
Soumis le : lundi 11 décembre 2023-15:25:11
Dernière modification le : mercredi 20 mars 2024-16:20:04
Citer
Bogdan Cretu, Anabela Veloso, Eddy Simoen. Refined DC and Low-Frequency Noise Characterization at Room and Cryogenic Temperatures of Vertically Stacked Silicon Nanosheet FETs. IEEE Transactions on Electron Devices, 2023, 70 (1), pp.254-260. ⟨10.1109/TED.2022.3225248⟩. ⟨hal-04335878⟩
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