Une nouvelle approche d'intelligence artificielle et une plateforme d'acquisition de données orientée vers la détection de défauts dans les systèmes PV sont proposées. L'état des panneaux est discriminé à l'aide d'un clustering hiérarchique, d'une analyse temps-fréquence et d'une extraction et réduction de dimensionnalité statistiques. La détection des défauts est effectuée à l'aide des moindres carrés partiels (PLS) et validée avec une PLS-LDA proposée. La plate-forme d'acquisition de données est capable de capturer 16 signaux à la vitesse de la milliseconde. Les résultats de cet article dépassent ceux obtenus avec les méthodes conventionnelles.