Mouillage à l’échelle nanométrique : Désorption induite par les forces à la ligne de contact
Résumé
The contact line dynamic is controled by the molecular interactions. With the use of an atomic force
microscope (AFM) on which there is a nanofiber, we studied the effect of the repeated contact line
displacement on a solid surface. This setup allows to separate the effects of topographical and chemical
defects. With the use of 6 different liquids and 5 nanofiber, we show that some airborne molecules may
be adsorbed when the nanofiber is in the air and that they are desorbed by the repeated displacement of
the contact line during successive dipping cycles. Our data shows that the desorption rate is independent
of the contact line velocity and of the liquid probed.
La dynamique d’une ligne de contact est gouvernée par les interactions moléculaires. À l’aide d’expériences utilisant un microscope à force atomique (AFM) muni d’une sonde comportant une nano-fibre,
nous avons étudié l’effet d’un passage répété de la ligne de contact sur une surface solide. Ce montage
permet de découpler les effets des défauts topographiques de ceux des défauts chimiques. Cela nous
permet de montrer, en utilisant 6 liquides différents et 5 sondes munies de nano-fibres différentes, que
des molécules aéroportées s’adsorbent lorsque la sonde est à l’air libre et qu’elles sont désorbées par
la force exercée par la ligne de contact lors des trempages successifs de cette dernière. Nos données
montrent que le taux de désorption est indépendant de la vitesse de la ligne de contact et du liquide
sondé.
Domaines
Physique [physics]| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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