In Situ X-ray Diffraction Study of GaN Nucleation on Transferred Graphene - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Crystal Growth & Design Année : 2020

In Situ X-ray Diffraction Study of GaN Nucleation on Transferred Graphene

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04278719 , version 1 (10-11-2023)

Identifiants

Citer

Camille Barbier, Tao Zhou, Gilles Renaud, Olivier Geaymond, Patrick Le Fèvre, et al.. In Situ X-ray Diffraction Study of GaN Nucleation on Transferred Graphene. Crystal Growth & Design, 2020, 20 (6), pp.4013-4019. ⟨10.1021/acs.cgd.0c00306⟩. ⟨hal-04278719⟩
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