Modeling local anodic oxidation induced by near field microscopy - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 1999
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04249205 , version 1 (19-10-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04249205 , version 1

Citer

Emmanuel Dubois, Jean-Luc Bubendorff. Modeling local anodic oxidation induced by near field microscopy. Proc. of the 10th workshop on dielectrics in microelectronics, Nov 1999, Barcelona, Spain. ⟨hal-04249205⟩
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