Brevet
Année : 2023
zoubir khatir : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04236407
Soumis le : mardi 10 octobre 2023-21:48:24
Dernière modification le : lundi 18 décembre 2023-15:30:35
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-04236407 , version 1
Citer
Zoubir Khatir. Method and device for measuring the state of health of semiconductor-based electronic components. France, N° de brevet: WO/2023/094205. 2023. ⟨hal-04236407⟩
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