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Communication Dans Un Congrès Année : 2023

Experimental study of the parallel connection of several diodes

Etude expérimentale de la mise en parallèle de plusieurs diodes

Résumé

An AC/DC converter, connected to the electrical distribution network, is mainly subjected to unidirectional power flows which can exceed the thermal capacities of the semiconductors and damage them. To overcome this problem, we are interested in studying losses in PiN diodes in parallel or not with a switching diode. In this article, we measure the losses using a double pulse test and we are interested in the predictability of the result compared with the manufacturer's data. It appears that paralleling identical diodes leads to an increase in total overlap losses. Only the association with diodes with better switching performance leads to a reduction in total losses. However, this leads to an increase in voltage peaks and waveform distortion in each component, which can be detrimental to the estimation of performance and reliability of a future circuit with several components in parallel.
Un convertisseur AC/DC, raccordé au réseau électrique de distribution, est principalement soumis à des flux de puissance unidirectionnels qui peuvent dépasser les capacités thermiques des semiconducteurs et les endommager. Pour dépasser ce problème, nous nous intéressons à l'étude des pertes dans des diodes PiN en parallèle ou non avec une diode de commutation. Dans cet article, nous mesurons les pertes mesurées à l'aide d'un test à double impulsion (ou double pulse) et nous nous intéressons à la prédictibilité du résultat par rapport aux données du fabricant. Il apparait que la parallélisation de diodes identiques entraine une augmentation des pertes totales par recouvrement. Seule l'association avec des diodes ayant de meilleures performances en commutation entraine une diminution des pertes totales. Cependant, cela conduit à une augmentation des pics de tension et à une distorsion des formes d'onde dans chaque composant, ce qui peut être préjudiciable à l'estimation des performances et la fiabilité d'un futur circuit avec plusieurs composants en parallèle.
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04192001 , version 1 (31-08-2023)

Licence

Copyright (Tous droits réservés)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04192001 , version 1

Citer

Frédéric Reymond-Laruina, Tanguy Phulpin, Yasmine Baazizi, Richard Beljio, Loïc Quéval, et al.. Experimental study of the parallel connection of several diodes. 5ème Symposium de Génie Électrique (SGE 2023), L2EP, Jul 2023, Lille, France. ⟨hal-04192001⟩
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