Article Dans Une Revue
European Physical Journal: Applied Physics
Année : 2004
Anne Ponchet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04175602
Soumis le : mercredi 2 août 2023-11:02:58
Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:15
Citer
Anne Ponchet, M. Cabié, A. Rocher. TEM measurement of the misfit stress by a curvature method in semiconducting epitaxial system. European Physical Journal: Applied Physics, 2004, 26 (2), pp.87-94. ⟨10.1051/epjap:2004026⟩. ⟨hal-04175602⟩
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