Robustness of SiC JFET in Short-Circuit Modes - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Electron Device Letters Année : 2009
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04154543 , version 1 (06-07-2023)

Identifiants

Citer

N. Boughrara, S. Moumen, S. Lefebvre, Zoubir Khatir, P. Friedrichs, et al.. Robustness of SiC JFET in Short-Circuit Modes. IEEE Electron Device Letters, 2009, 30 (1), pp.51-53. ⟨10.1109/LED.2008.2008668⟩. ⟨hal-04154543⟩
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