Article Dans Une Revue
IEEE Electron Device Letters
Année : 2009
Khatir Zoubir : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04154543
Soumis le : jeudi 6 juillet 2023-17:07:02
Dernière modification le : jeudi 23 novembre 2023-13:56:16
Citer
N. Boughrara, S. Moumen, S. Lefebvre, Zoubir Khatir, P. Friedrichs, et al.. Robustness of SiC JFET in Short-Circuit Modes. IEEE Electron Device Letters, 2009, 30 (1), pp.51-53. ⟨10.1109/LED.2008.2008668⟩. ⟨hal-04154543⟩
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