Mesures et modélisation RF de capacités MIM intégrées - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes Année : 2022

Mesures et modélisation RF de capacités MIM intégrées

Résumé

Il s’agit de former des étudiants de Master 2 et des ingénieurs en formation continue à la mesure RF sous pointes pour caractériser des capacités Métal-Isolant-Métal (MIM) intégrées sur un wafer. La problématique est d’obtenir le modèle électrique le plus fiable possible de ces capacités entre 40MHz et 26GHz tout en s’affranchissant des contraintes de mesures et des éléments d’accès RF à cette capacité.

Domaines

Electronique

Dates et versions

hal-04048979 , version 1 (28-03-2023)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

Citer

Jean-Daniel Arnould, Florence Podevin, Loïc Vincent. Mesures et modélisation RF de capacités MIM intégrées. Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2022, 21, 6 p. ⟨10.1051/j3ea/20221001⟩. ⟨hal-04048979⟩

Collections

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