Method for generating a unique data specific to an integrated silicon circuit
Résumé
L'invention concerne un procédé pour générer une donnée unique (R) propre à un circuit intégré en silicium, ladite donnée étant générée par l'application d'une fonction physiquement non clonable PUF dudit circuit, lequel circuit comporte un circuit de retard (CR, CRi), la mise en œuvre de la fonction PUF comprend une étape consistant à mesurer, au moyen d'un convertisseur TDC, la différence entre :- l'instant d'arrivée d'un premier événement d'un signal à une entrée (Start) du convertisseur TDC et,- l'instant d'arrivée d'un second événement d'un signal à une entrée (Stop) du convertisseur TDC, lequel second événement est généré par le circuit de retard (CR).