Caractérisation par spectroscopie Raman de nanocristaux de silicium encapsulés dans des couches minces de SiNx - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03987864 , version 1 (14-02-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03987864 , version 1

Citer

Jérémy Barbé, Kremena Makasheva, S. Perraud, Bernard Despax. Caractérisation par spectroscopie Raman de nanocristaux de silicium encapsulés dans des couches minces de SiNx. Workshop du GDR Nacre - Nanocristaux dans des diélectriques pour l’électronique et pour l’optique, Toulouse, France, 2012, Toulouse, France. ⟨hal-03987864⟩
11 Consultations
0 Téléchargements

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More