Memory effect in a dielectric barrier discharge in N2 : phenomena in the gas bulk versus phenomena on the dielectrics surfaces - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2017
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hal-03987800 , version 1 (14-02-2023)

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  • HAL Id : hal-03987800 , version 1

Citer

Clémence Tyl, Xi Lin, Nicolas Naudé, Simon Dap, Nicolas Gherardi. Memory effect in a dielectric barrier discharge in N2 : phenomena in the gas bulk versus phenomena on the dielectrics surfaces. XXXIII International Conference on Phenomena in Ionized Gases (ICPIG 2017), July 9-14, 2017, Estoril (PORTUGAL), 2017, Estoril, Portugal. ⟨hal-03987800⟩
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