Detecting faults in inner product masking scheme - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Journal of Cryptographic Engineering Année : 2021

Detecting faults in inner product masking scheme

Wei Cheng
Kouassi Goli
  • Fonction : Auteur
Jean-Luc Danger
Sylvain Guilley
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03966497 , version 1 (31-01-2023)

Identifiants

Citer

Wei Cheng, Claude Carlet, Kouassi Goli, Jean-Luc Danger, Sylvain Guilley. Detecting faults in inner product masking scheme. Journal of Cryptographic Engineering, 2021, 11 (2), pp.119-133. ⟨10.1007/s13389-020-00227-6⟩. ⟨hal-03966497⟩
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