Detecting faults in inner product masking scheme

Wei Cheng; Claude Carlet; Kouassi Goli; Jean-Luc Danger; Sylvain Guilley

doi:10.1007/s13389-020-00227-6

Article Dans Une Revue Journal of Cryptographic Engineering Année : 2021

Detecting faults in inner product masking scheme

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2

Wei Cheng

Fonction : Auteur
PersonId : 751842
IdHAL : wei-cheng
ORCID : 0000-0001-9433-7576

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CV

Claude Carlet

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PersonId : 16208
IdHAL : sylvain-guilley
ORCID : 0000-0002-5044-3534
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Laboratoire Analyse, Géométrie et Applications

CV

Kouassi Goli

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Jean-Luc Danger

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PersonId : 175676
IdHAL : jeanluc-danger
ORCID : 0000-0001-5063-7964

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Sylvain Guilley

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Claude Carlet : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03966497

Soumis le : mardi 31 janvier 2023-18:33:00

Dernière modification le : vendredi 4 octobre 2024-03:17:56

Dates et versions

hal-03966497 , version 1 (31-01-2023)

Identifiants

HAL Id : hal-03966497 , version 1
DOI : 10.1007/s13389-020-00227-6

Citer

Wei Cheng, Claude Carlet, Kouassi Goli, Jean-Luc Danger, Sylvain Guilley. Detecting faults in inner product masking scheme. Journal of Cryptographic Engineering, 2021, 11 (2), pp.119-133. ⟨10.1007/s13389-020-00227-6⟩. ⟨hal-03966497⟩

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