Article Dans Une Revue
Journal of Cryptographic Engineering
Année : 2021
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https://hal.science/hal-03966497
Soumis le : mardi 31 janvier 2023-18:33:00
Dernière modification le : mercredi 4 février 2026-03:28:31
Citer
Wei Cheng, Claude Carlet, Kouassi Goli, Jean-Luc Danger, Sylvain Guilley. Detecting faults in inner product masking scheme. Journal of Cryptographic Engineering, 2021, 11 (2), pp.119-133. ⟨10.1007/s13389-020-00227-6⟩. ⟨hal-03966497⟩
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