Article Dans Une Revue
ACS Applied Materials & Interfaces
Année : 2022
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https://hal.science/hal-03962818
Soumis le : lundi 30 janvier 2023-13:53:29
Dernière modification le : vendredi 25 juillet 2025-03:34:40
Citer
Sanjoy Kumar Nandi, Etienne Puyoo, Shimul Kanti Nath, David Albertini, Nicolas Baboux, et al.. High Spatial Resolution Thermal Mapping of Volatile Switching in NbO x -Based Memristor Using In Situ Scanning Thermal Microscopy. ACS Applied Materials & Interfaces, 2022, 14 (25), pp.29025-29031. ⟨10.1021/acsami.2c06870⟩. ⟨hal-03962818⟩
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