Communication Dans Un Congrès
Année : 2007
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https://hal.science/hal-03942703
Soumis le : mardi 17 janvier 2023-11:06:59
Dernière modification le : mardi 4 novembre 2025-03:15:14
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03942703 , version 1
Citer
Mohamed Lamhamdi, Jean Guastavino, Laurent Boudou, Yvan Segui, Patrick Pons. Quantitative Study of charge trapping in SiNx for MEMS Capacitive Switches Reliability. Memswave 2007 : 8th International Symposium on RF MEMS and RF Microsystems, Barcelona, Spain, Jun 2007, Barcelona, Spain. ⟨hal-03942703⟩
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