Communication Dans Un Congrès Année : 2007
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Dates et versions

hal-03942703 , version 1 (17-01-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03942703 , version 1

Citer

Mohamed Lamhamdi, Jean Guastavino, Laurent Boudou, Yvan Segui, Patrick Pons. Quantitative Study of charge trapping in SiNx for MEMS Capacitive Switches Reliability. Memswave 2007 : 8th International Symposium on RF MEMS and RF Microsystems, Barcelona, Spain, Jun 2007, Barcelona, Spain. ⟨hal-03942703⟩
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